SJ 20869-2003 铌酸锂集成光学波导调制器测试方法
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ID： |
F8460A13BA874280A94067B9D968C6CD |
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文件大小(MB)： |
0.72 |
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18 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 6030 SJ 20869—2003,银酸锂集成光学波导调制器,测试方法,Measuring methods for LiNbO3 integrated optical guided-wave modulators,20037275 发布2004-03-01 实施,I中华人民共和国信息产业部 批准,SJ 20869—2003,目 次,前 日. *. *. II, 范围.1,2 弓〕用文件.. 1,3 术语和定义.. 1,4 一般要求 ヽ.. 1,5 详细要求 2,方法1001 插入损耗.. ；3,方法1002 分束比. 4,方法1003 尾纤偏旅串音.5,方法1004 半波电压.. 6,方法1005带宽. 9,方法1006 残余强度调带リ *.*..11,方法100ア 背向光反射 12,方法1008 调制消光比,SJ 20869—2003,刖,ャ と「,本标准由信息产业部电子第四研究所归口,本标准起草单位:中国电子科技集团公司第四十四研究所,本标准主要起草人:李刚毅、沈映欣、郭 萍.,SJ 20869—2003,银酸锂集成光学波导调制器测试方法,本标准规定了锯酸锂集成光学波导调制器的测试方法,本标准适用于锯酸锂集成光学波导调制器（以下简称“调制器”）的光电参数测试Q其他材料制成,的集成光学波导调制器也可参照执行.,2引用文件,下列文件中的有关条款通过引用而成为本标准的条款ス凡注日期或版次的引用文件,其后的任,何修改单（不包括勘误的内容）或修订版本都不适用于本标准;但提倡使用本标准的各方探讨使,用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本标准.,GB/T2421—1999电工电子产品环境试验 第1部分:总则,3.1,下列术语和定义适用于本标准,插入损耗 insertion loss .-,E,调制器给系统带来的光损耗,即调制器插入系统后，调制器的输入光功率与最大输岀光功率的比值,-- ■".一,3.2 分束 比 spI it ratio,调制器各分支输出光功率分别相对于总输出光功率的相对值的比,3.3,3.4,尾纤偏振串音"polarization crosstalk,调制器的保偏尾纤非工作轴向偏振输出的光功率与工作轴向偏振输出的光功率的比值,半波电压 haIf-^vave voltage,在规定的调制信号下;对于强度调制器半波电压为输岀光功率从最大到最小的外加电压，对于相位,调制器半波电压为输出光相位移动”时所需的外加电压.,3.5 带宽 bandwidth,島,* r -,3术语和定义」,1,3.6,当光调制度降低到最大光调制度的'50%时所;对应的频率范围0,残余强度调制（相位调制器的）residiial intensity modulation （in phase modulators）,相位调制器工作时伴随的光强度调制;在规定调制信号卞,强度调制的峰丒峰值与平均光强值的比,值,3.7 背向光反射 back reflection,调制器返回入射点的反射光功率与入射光功率的比值,3.8 调制消光比 ext i net ion ratio（on/off）,强度调制器经电调制后,输出能达到的最大光强与最小光强的比值.,4 一般要求,4.1测试条件,4 1.1通则,除另有规定外,调制器光电参数的测试应按本标准规定的测试条件进行,41.2标准大气条件,1,SJ 20869—2003,除另有规定外,应符合GB/T2421—1999中5.3的规定0,4.1.3仲裁标准大气条件,除另有规定外,应符合GB/T 2421—1999中5.2的规定D,4.1.4环境条件,a）应无影响测试准确度的机械振动和电磁干扰;,b）除另有规定外,调制器全部光电参数的测试均应在热平衡环境条件下进行;,C）测试系统应良好接地,4.2测试系统及测试仪器,4 2.I通则,测试用仪器的准确度应符合测试规定要求,按有关操作规程进行测试,4.2.2光源,测试中使用的光源应满足测试要求,4.2.3电压源,测试中使用的电压源的电压在给定值的范围内误差为±3%,4.2.4检偏器,测试中使用的检偏器可用格兰棱镜等,其偏振消光比应大于50 dB,光的透过率应满足测试要求,4. 2.5光纤耦合器,测试中使用的光纤耦合器的耦合比应满足测试要求,4. 2.6网络分析仪,测试中使用的网络分析仪应满足测试要求,4.2.7无应カ透镜,测试中使用的无应カ透镜的内应カ及退偏效应满足测试要求,4. 2.8光功率测量仪器,光功率测量仪器可用光功率计等,应具有被测调制器相适应的波长范围。响应度、带宽、响应度线,性等满足测试要求,5详细要求,本测试方法分为:,a),b),c),d),e),り,g),h),方法1001,方法1002,方法1003,方法1004,方法1005,方法!006,方法1007,方法!008,插入损耗:,分束比;,尾纤偏振串音;,半波电压;,残余强度调制;,背向光反射:,调制消光比,2,SJ 20869—2003,方法1001,插入损耗,1目的,在规定条件下,测试调制器的插入损耗,2测试框图,测试框图见图h,G1,S-光源;,LR~~被测调制器; ,G1——直流稳压源（相位调制黑可不接直流稳压源）； ',PD——光功率计;,FC——光纤,J- 」,图1插入损耗测试框图 :],3测试步骤1r,3.I 按图]连接测试系统,3.2 开启光源,对于相位调制器调节光偏振状态，对于强度调制器调节直流偏亶工作点，使光功率计,的读数为最大值尸。max （若为分束器,?。max为各分支……
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